17th International Conference on Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis and Related Methods

Nel periodo dal 19 al 22 settembre 2017 si svolgerà a Brescia la 17th International Conference on Total Reflection X-ray Fluorescence Analysis and Related Methods.

L’obiettivo del congresso è quello di raccogliere esperti ed utilizzatori della tecnica TXRF per presentare e discutere i risultati delle ricerche e le prospettive nei diversi campi di applicazione, ambientale e food, scienza forense, biologia, semiconduttori.

Quest’anno la conferenza sarà arricchita dall’aggiunta del “Primo corso VAMAS” dedicato all’analisi degli elementi in tracce mediante TXRF, che si svolgerà il lunedì 18 settembre 2017.

INSTM ha concesso il patrocinio all’iniziativa.

© 2013 - Consorzio Interuniversitario Nazionale per la Scienza e Tecnologia dei Materiali